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(資料圖片僅供參考)

近日，由阿特斯?fàn)款^制訂的IEC TS 63202-4 Photovoltaic cells - Part 4: Measurement of light and elevated temperature induced degradation of crystalline silicon photovoltaic cells(晶體硅光伏電池?zé)彷o助光致衰減測試方法)正式發(fā)布，此標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)布進(jìn)一步提高了我國在光伏電池領(lǐng)域的國際標(biāo)準(zhǔn)制定權(quán)和話語權(quán)。

為了我國太陽能產(chǎn)業(yè)在國際有更好的發(fā)展，必須推進(jìn)太陽能技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)“走出去”，接軌國際新能源標(biāo)準(zhǔn)，提升我國技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)水平。助力質(zhì)量強(qiáng)國，貫徹《國家標(biāo)準(zhǔn)化發(fā)展綱要》，阿特斯一直在努力，除了IEC TS 63202-4標(biāo)準(zhǔn)以外，目前阿特斯還牽頭了多項IEC(國際電工委)國際標(biāo)準(zhǔn)項目的制修訂工作。

本次發(fā)布的標(biāo)準(zhǔn)由阿特斯在2019年向國標(biāo)委提交立項提案，2019年12月通過國內(nèi)專家立項評審，2020年9月由國標(biāo)委向IEC TC82提出新工作項目NP (new work item proposal)提案，2021年1月IEC NP投票通過。

LETID(熱輔助光致衰減)是晶體硅電池在較高溫度和光照條件下面臨的一種衰減模式，在P型單多晶電池和N型電池中都會發(fā)生。本標(biāo)準(zhǔn)的制訂有助于快速判斷晶體硅電池的LETID風(fēng)險，評估抗LeTID工藝措施的有效性，并最終提升光伏組件的戶外發(fā)電能力。阿特斯從2016年開始研究電池LID、LETID衰減機(jī)理，包括其消除方案和量產(chǎn)監(jiān)控手段。阿特斯在行業(yè)內(nèi)推廣了CIR電注入技術(shù)以消除PERC電池LETID衰減問題，并首創(chuàng)了CID量產(chǎn)監(jiān)控技術(shù)。阿特斯組件的抗LETID衰減性能也得到了第三方認(rèn)可，屬于行業(yè)領(lǐng)先水平，也因此牽頭承擔(dān)晶體硅電池LETID衰減測試方法IEC標(biāo)準(zhǔn)的制定工作。

阿特斯將電池LETID衰減抑制技術(shù)應(yīng)用在單多晶PERC電池組件，以及下一代N型技術(shù)產(chǎn)品上。量產(chǎn)效率高達(dá)25.5%的HJT電池將在今年下半年進(jìn)入量產(chǎn)層面驗證，并已推出適用于屋頂市場的HiHero組件產(chǎn)品，采用108半片182尺寸電池，組件功率最高達(dá)到440W，組件效率最高達(dá)到22.5%，并提供行業(yè)最優(yōu)的25年產(chǎn)品質(zhì)保和30年功率質(zhì)保。此外，適用于大型地面電站的阿特斯N-TOPCon組件計劃于2022年三季度試生產(chǎn)，四季度正式量產(chǎn)，正面最高功率達(dá)到690W。